東京で実施された国際英語試験「TOEIC」において、警察が中国国籍の受験者10人による不正行為を摘発した。
毎日新聞の18日付報道によると、7日、東京のTOEIC試験会場で中国国籍の男女10人が不正行為を試み、当局に摘発されたことが明らかになった。受験者の大半は20代で、全員本名で試験を受けていたが、応募申請書には同一の住所が記載されていた。
捜査の結果、これらの受験者は小型イヤホンや骨伝導機能が搭載された電子式「スマートグラス」などの機器を試験会場に持ち込み、外部の解答提供者から音声で解答を伝達してもらおうとしていたことが判明した。
不正行為の動機について、「カンニングが可能だと聞いて数万円を支払った」、「高得点を取りたかった」などと供述している。
なお、国内のTOEIC試験で中国国籍の受験者による不正が摘発されたのは今回が初めてではない。5月には京都大学大学院2年のワン・リークン被告（27）が代理受験を試みた容疑（建造物侵入）で現行犯逮捕された事例もあった。
その際も、ワン被告と同一の住所で受験した受験者が複数おり、同一試験会場で組織的なカンニングが確認されていた。
これを受け、警察は複数の中国系ブローカー組織が体系的に不正受験を主導している可能性に注目し、捜査を拡大している。